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比表面積及孔徑分析儀

比表面積及孔徑分布測(cè)定儀比表面積及孔徑分布測(cè)試儀比表面積及孔徑分布測(cè)量?jī)x 比表面積及孔徑分布檢測(cè)儀比表面積及孔徑檢測(cè)儀比表面積及孔徑測(cè)量?jī)x 比表面積及孔徑測(cè)定儀比表面積及孔徑測(cè)試儀比表面積及孔徑分析儀

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經(jīng)過(guò)改進(jìn)升級(jí)后3H-2000型系列儀器在2002年12月16日通過(guò)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研究中心的計(jì)量檢測(cè)，證書(shū)編號(hào)為：計(jì)測(cè)字第 2002-（17）-017。
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BSD-PS硼粉比表面及孔徑分析儀

更新時(shí)間：2024-10-25

型號(hào)：BSD-PS

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硼粉比表面及孔徑分析儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)，遠(yuǎn)銷(xiāo)海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)
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BSD-660比表面及孔徑分析儀

更新時(shí)間：2024-10-25

型號(hào)：BSD-660

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比表面及孔徑分析儀是在液氮溫度下（77.3K）向樣品管內(nèi)通入一定量的吸附質(zhì)氣體（N2）通過(guò)氣體狀態(tài)方程PV=nRT，得到分壓點(diǎn)的吸附量；再通過(guò)BET或Langmuir等理論公式計(jì)算可得到樣品的比表面積，逐漸投入吸附質(zhì)氣體增大吸附平衡壓力，得到吸脫附等溫線(xiàn)；再通過(guò)吸附脫附等溫線(xiàn)的數(shù)據(jù)計(jì)算得到樣品的孔徑大小，孔體積，孔徑分布等信息。
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BSD-660高精度比表面及孔徑分析儀

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高精度比表面及孔徑分析儀是在液氮溫度下（77.3K）向樣品管內(nèi)通入一定量的吸附質(zhì)氣體（N2）通過(guò)氣體狀態(tài)方程PV=nRT，得到分壓點(diǎn)的吸附量；再通過(guò)BET或Langmuir等理論公式計(jì)算可得到樣品的比表面積，逐漸投入吸附質(zhì)氣體增大吸附平衡壓力，得到吸脫附等溫線(xiàn)；再通過(guò)吸附脫附等溫線(xiàn)的數(shù)據(jù)計(jì)算得到樣品的孔徑大小，孔體積，孔徑分布等信息。
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BSD-660PS系列比表面積及孔徑分析儀

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全自動(dòng)比表面及中孔微孔分布分析儀是在液氮溫度下（77.3K）向樣品管內(nèi)通入一定量的吸附質(zhì)氣體（N2）通過(guò)氣體狀態(tài)方程PV=nRT，得到分壓點(diǎn)的吸附量；再通過(guò)BET或Langmuir等理論公式計(jì)算可得到樣品的比表面積，逐漸投入吸附質(zhì)氣體增大吸附平衡壓力，得到吸脫附等溫線(xiàn)；再通過(guò)吸附脫附等溫線(xiàn)的數(shù)據(jù)計(jì)算得到樣品的孔徑大小，孔體積，孔徑分布等信息。
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經(jīng)過(guò)改進(jìn)升級(jí)后3H-2000型系列儀器在2002年12月16日通過(guò)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研究中心的計(jì)量檢測(cè)，證書(shū)編號(hào)為：計(jì)測(cè)字第 2002-（17）-017。2004年推出BET多點(diǎn)法教學(xué)用3H-2000II型;2005年推出3H-2000III型;2008年推出的全自動(dòng)智能運(yùn)行的3H-2000A型,以及BET原理的BET單點(diǎn)法的3H-2000BET-S型,BET多點(diǎn)法的3H-2000BET-M型,BET多點(diǎn)法的3H-2000BET-A型;3H-2000PS系列比表面及孔徑分析儀。
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