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比表面積及微孔

微孔分析儀高精度微孔檢測(cè)

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BSD-660超微孔全自動(dòng)比表面積及孔徑分析儀

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超微孔全自動(dòng)比表面積及孔徑分析儀產(chǎn)品概述： ◆ 比表面積及介孔，微孔，超微孔分析 ◆ 高通量分析：最多同時(shí)分析12個(gè)樣品 ◆ 真正全自動(dòng)：脫氣→測(cè)試，全自動(dòng)切換，無(wú)需人為干預(yù)
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BSD-PM靜態(tài)容量法高性能比表面積及微孔分析儀

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BSD-66012分析位全自動(dòng)高通量比表面積及孔徑分析儀

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12分析位全自動(dòng)高通量比表面積及孔徑分析儀產(chǎn)品概述： ◆ 比表面積及介孔，微孔，超微孔分析 ◆ 高通量分析：最多同時(shí)分析12個(gè)樣品 ◆ 真正全自動(dòng)：脫氣→測(cè)試，全自動(dòng)切換，無(wú)需人為干預(yù) 主要功能 / Main Function ◆ 高通量快速比表面積分析； ◆ 孔體積和孔徑分布（介孔、微孔、超微孔） ◆ 常規(guī)氣體吸附，如 N2,O2,Ar,CO,CO2
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BSD-PS比表面及孔隙率檢測(cè)

更新時(shí)間：2024-10-25

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比表面及孔隙率檢測(cè)儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)，遠(yuǎn)銷(xiāo)海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)*,。
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BSD-PS比表面及孔隙率檢測(cè)儀

更新時(shí)間：2024-10-25

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比表面及孔隙率檢測(cè)儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)，遠(yuǎn)銷(xiāo)海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)*,。
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BSD-PS比表面及孔隙率測(cè)量

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比表面及孔隙率測(cè)量?jī)x，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)，遠(yuǎn)銷(xiāo)海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)*,。
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BSD-PS比表面及孔隙率測(cè)量?jī)x

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比表面及孔隙率測(cè)量?jī)x，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)，遠(yuǎn)銷(xiāo)海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)*,。
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BSD-PS比表面及孔隙率測(cè)定

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比表面及孔隙率測(cè)定儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)，遠(yuǎn)銷(xiāo)海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)*,。
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